用于定量的薄层色谱仪称为薄层扫描仪或薄层光密度计，用这种仪器对薄层上被分离的物质进行直接定量的方法称为薄层扫描法。目前各国生产的薄层扫描仪虽然型号不同，性能各异，但其测定的基本原理是相似的，即用一束长宽可以调节的一定波长、一定强度的光照射到薄层斑点上进行整个斑点的扫描，用仪器测量通过斑点或被斑点反射的光束强度的变化达到定量的目的。薄层扫描仪适用于滤纸、薄层或凝胶电泳板等色谱的光密度扫描。

由于薄层是由许多细小颗粒涂布成的半透明固体，当光照射到薄层表面时，除透射光、反射光外，还有相当多的散射光，因此与光照透明溶液不同，样品量与测得值之间呈非线性关系，特别是在高浓度区这种情况就更为明显，这就给定量工作带来困难．为此有以下三种途径来解决薄层上的定量问题。

①应用低浓度区定量在薄层色谱上样品量与测得值之间一般呈抛物线状，但在低浓度区样品量与测得值问可呈线性关系，因此在不具备线性化功能的薄层扫描仪上常用此法进行定量，但由于线性浓度范围有限，故应用上有一定限制。

②应用线性参数定量 光照到散射物质表面，光的行为比较复杂，从理论上推导出简化的方程式，应用于薄层扫描，从实用角度解释光照到薄层上的变化情况。

根据Kbelk一Muk推导的微分方程式，再推导出在薄层上斑点的透光度r和反射度R为X为薄层厚度；S为薄层单位厚度的散射程度，即散射系数；SX为散射参数，它与薄层的吸附剂性质(颗粒大小、分布范围、表面}L径、性状、制备工荨等)、薄层的厚度有关；K为薄层单位厚度的吸光程度，即吸收系数；Kx为吸收参数，当厚度一定时，它只与被测物质的含量有关，不同吸附剂或不同厂家的同一吸附剂，其SX值均不同，需要预先测定。如Merck厂生产的硅胶板Sx=3，氧化铝板SX=7等。

不同SX值的吸附剂得出不同弯曲度的曲线，从而可证明透射法比反射法的线性好些。13本岛津公司CS系列薄层扫描仪设计有线性化器，其工作原理即根据Kubelka—Munk方程式用电路系统将弯曲的曲线校正为直线，然后用校正后的直线进行定量。

③应用非线性方程定量利用计算机先求出非线性方程，然后在测定样品时将测定值输入计算机，由此方程求出样品浓度。瑞士CAMAG公司的薄层扫描仪Ⅱ型即根据此原理进行测定，并认为这种方法更合理，测定得结果更准确可靠。