(1)吸收测定法

凡在可见光及紫外光区有吸收的化合物，分别用钨灯为光源，在波长200～800mm范围选择合适波长进行测定，根据对光测定方式的不同，可分为下列几种。

①透射法光源与光电检测器安装在薄层板的两侧。由光源发出的光经单色器(或滤光片)后成为一定波长的单色光，照射到薄层上的斑点，光通过斑点被吸收一部分，用光电倍增管在薄层另一侧测量透射光强度。

由于一般薄层板适用的玻璃板为普通玻璃能吸收小于330 llm的紫外光，故用普通玻璃的薄层板时不能用短波长紫外光做透射扫描，在应用上受一定限制。本法灵敏度虽高，但薄层的不均匀度及厚度对测定都有影响，基线噪声大，故信噪比小，因此实际应用较少。

②反射法光源与光电检测器安装在薄层同测，由光源发出的光经单色器(或滤光片)后成为一定波长的单色光，光电倍增管置于4-5。角处测量反射光强度。此法灵敏度较低，受薄层表面不均匀度的影响较大，但对薄层厚度要求不高，基线比较稳定，因此信噪比较大，重现性较好。反射法测量玻璃板无影响，在紫外、可见光波长范围内均可测定，不受波长限制。目前薄层扫描定量一般多采用反射法测定。

③透射一反射法本法系同时测定反射光及透射光，对测得的两种光信号相加。这种测量方式可以部分补偿由于薄层厚度不均匀所造成的测量误差。因此基线平稳、测量误差减小、灵敏度增加，但这种仪器的构造较复杂，且这样的仪器一般少见。

(2)荧光测定法

凡化合物本身或经过色谱前后衍生化能生成对紫外光有吸收并能放出更长波长光的化合物适用荧光测定法。光源用氙灯或汞灯，测定时先在紫外光区选择最大吸收波长作为该化合物的激发光波长A…固定A。；后，再选择合适的波长作为发射光波长发射光波长选择方法要根据仪器的结构，发射光波长可由斑点的发射光谱或尝试法决定。

对具有发射光单色器的薄层扫描仪，才能测定荧光斑点的荧光发射光谱从而选择发射光波长。但一般常见的薄层扫描仪只具有激发光单色器，用滤光片代替了发射光单色器，这种仪器不能测定斑点的荧光发射光谱，发射光波长的选择，只能由选择发射滤光片来粗略实现。

在荧光测定法中，光源通常使用能量较高的汞灯或氙灯，产生的光经单色器或滤光片变成单色光照射到薄层的斑点上，然后用反射法测量斑点被激发所产生的荧光。在光电检测器前放置二级滤光片滤去照射到薄层后反射的激发光。