在原子发射光谱分析中存在的干扰效应会对样品的测量结果产生系统误差或偶然误差。干扰现象依据产生的机理可分为光谱干扰和非光谱干扰两类，光谱干扰是指待测元素分析线的信号和干扰物产生的辐射信号分辨不开的现象；非光谱千扰包括物理干扰、化学干扰和电离干扰。

一、光谱干扰

原子发射光谱仪工作时，由于激发光源的能量高，在200～1000nm波长范围会产生10万～1000万条谱线，平均在0. lmm宽度就分布上百条谱线，因而几乎每个元素的分析线都会受到不同程度的谱线干扰。当使用ICP光谱仪时，比其它光源会出现更强的谱线重叠干扰，而成为ICP-AES中的主要干扰。

光谱干扰可分为谱线重叠干扰和背景干扰两类。

1.谱线重叠干扰

它是指被测定元素的分析线上被另外一个元素的谱线重叠或部分重叠，分为两种情况：

(1)谱线直接重叠即干扰线与分析线完全重合。

此时可用干扰系数法进行校正，它是指千扰元素所造成分析元素浓度的增加与干扰元素浓度的比值。

如测定地质样品中的Cr元素，当用Cr的分析线205.552nm进行测定时，大量Fe的存在会产生干扰，若Fe的质量浓度为1000mg/L时造成Cr的质量浓度增加0.2 mg/ L，此时Fe对Cr的干扰系数K为：

被测元素分析受干扰时测得的浓度为表观浓度c_s，其用干扰系数校正后，即得真实浓度c_T：

C_T＝C_S-Kc_D

式中，C_D为干扰元素的浓度。

使用干扰系数法应满足以下几点：

①必须已知干扰元素的浓度，并在被测元素分析浓度范围内，保持为常数。

②干扰系数K与光谱仪的分辨能力相关，使用不同的仪器，测得K值也不相同，文献资料中的K值只作为参考，多数情况应自行测定。

在ICP光谱分析中，对常见元素分析线产生的干扰线波长以及常见元素干扰系数，可从ICP光谱分析专著中查阅。

(2)复杂谱线重叠分析线和两条或两条以上的干扰线重叠或部分重叠。此时若使用干扰系数法会得到错误结果，因此时干扰系数K不是常数，需使用多谱线拟合程序来进行校正。

在现代原子发射光谱仪中，由于高分辨技术的应用，减少了光谱干扰，特别是中阶梯光栅和全息光栅的广泛应用，大大降低了杂散光，提高了色散率，有效地消除和减少了光谱干扰。

2．背景干扰

它是指有连续发射形成的带状光谱叠加在分析线上而形成的干扰。背景干扰分为四种情况，见图3-38。

图3-38光谱背景干扰的几种情况
(a)简单平滑光谱背景；(b)斜坡背景；(C)弯曲背景；(d)复杂结构背景

(1)简单平滑光谱背景分析线谱峰被平滑背景叠加后，平行向上移动，可采用离峰单点校正，即从含背景的峰值强度中扣除背景强度值：

I_A＝I_AB=I_CB

(2)斜坡背景分析左右背景强度随波长发生渐变，但变化是线性的，可用离峰两点校正，即在谱峰两侧等距离处，测定此两点背景强度，取其平均值，再从含背景的峰值强度中扣除背景平均值：

(3)弯曲背景分析线位于与其共存元素高强度谱线的一侧，形成渐变弯曲的斜坡背景，如果分析线强度较大，则仍可按线性斜坡背景的离峰两点校正方法进行，若分析线强度较低，则此法校正的误差较大，会给出不正确的测定数据。对这种光谱背景校正，用空白背景校正法，即用不含待测元素的溶液测出空白对应的谱线强度，再用被测元素测得的谱线强度(表观强度)减去空白对应的谱线强度，即完成校正。

(4)复杂结构背景这种光谱背景通常由分子光谱谱带或谱线混合叠加而成。对这种背景采用空白溶液校正法是最合适的。

背景于扰的存在会影响分析结果的准确度，应予以扣除，但采用的扣除方法又会引入附加的误差，因而应依据背景产生的原因尽量减弱或抑制背景，当然最好应选用不受干扰的分析线再进行谱线强度测定。