二、非光谱干扰

在原子发射光谱分析中，非光谱干扰有物理干扰、化学干扰和电离干扰。

1.物理干扰

分析试液物理特性，如黏度、密度和表面张力的差异，影响ICP雾化效率，引起谱线强度的变化，称物理干扰或物性干扰，它又分为酸效应和盐效应两类：

(1)酸效应在ICP分析中，样品需经酸溶解制成试样溶液，由于酸的类型和浓度的不同，会产生对谱线强度的影响。通常随酸度增加会显著降低谱线强度，无机酸对谱线强度的影响会按下述顺序递增：HCI<HNO₃<HCIO<H₃PO₄<H₂SO₄。

酸效应是以在酸存在时的谱线强度与无酸存在时(去离子水溶液)谱线强度的比值来表示的(I_酸/I_水)。

(2)盐效应当试样浓度增加(含盐量增加)，其黏度、表面张力等物性均会增大，从而影响进样量，雾化效率和气溶胶传输效率降低，并进而影响分析线的谱线强度的降低。

消除物理干扰的根本方法是采用基体匹配法，即保持标准溶液和分析试样溶液及空白溶液中的酸度和盐含量相同。

2．化学干扰

化学干扰又称“溶剂蒸发效应”，是原子吸收法和火焰光度法普遍存在的干扰效应。如测Ca时，磷酸根或Al会产生干扰，此时应加入释放剂来降低化学干扰，在ICP光谱分析中，其影响较小，但仍存在。

3．电离干扰

对易电离的元素，其挥发进入火焰中，随电离的发生，使电子密度增加，会使电离平衡MM⁺+e^-向中性原子方向偏移，也会使谱线强度下降，因而在火焰光度法中，电离干扰是很严重的。在ICP光谱分析中，电离干扰要弱许多，但仍存在。

电离干扰对钠元素光谱的影响有如下规律：

(1)电离干扰对Na的离子线会降低谱线强度，对Na原子线会增强谱线强度。

(2)提高对炬焰的观测高度达15mm时，Na原子浓度高达1700ug/mL时，可降低Na对Ca(422.673nm)谱线的电离干扰。但在一般情况下，提高观测高度，电离干扰会增强，这可能是由于在较高观测高度，ICP炬焰的温度会降低而使谱线强度下降。

为消除电离干扰，可采用基体匹配法，或在定量分析时，使用标准加入法。

三、基体效应

基体效应是指样品中主要成分发生变化时，对分析线谱线强度和光谱背景的影响，它也是光谱分析中干扰效应的一种。

基体效应的产生，实质上是各种干扰效应的总和。基体效应主要是非光谱干扰，但也包括光谱干扰中的背景干扰和激发于扰。

激发干扰是指由于样品成分变化，导致ICP光源温度、电子密度、原子及离子在光源中分布发生变化，而引起分析线谱线强度和光谱背景变化的现象。

由上述可知基体效应是多种干扰效应产生综合作用的结果。

基体效应与干扰元素的种类、含量(浓度)相关，也受ICP光谱分析条件，如高频功率、载气流量，观测高度的影响。

基体效应可用存在基体效应时分析线的谱线强度I_B与无基体(空白)效应存在时分析线的谱线强度I_NB的比值B来表示。

B＝I_B/I_NB

当B>1时，基体效应增强，B<1时，基体效应被抑制。

为了降低光谱分析时基体效应的影响，可采用以下几种方法：

(1)采用稳健性(robust)分析条件又称强化条件。在ICP光谱分析中，应采用较高的高频功率、较低的载气流量、适中的观测高度，可以抑制基体效应。

(2)采用基体匹配法在配制标准溶液系列时，要加入与分析样品溶液相同量的基体成分，使标准溶液系列的主要成分与分析样品溶液相匹配。

(3)标准加入法当采用基体匹配法时，加入的基体成分要比分析试样的纯度高1.2个数量级，有时难于获得，此时可采用标准加入法，而无须使用基体成分材料。

(4)化学分离法待分离出基体成分后，再对样品溶液进行ICP光谱分析。

相关链接：原子发射光谱分析中的干扰效应及其校正（一）