一、离子分解时内能的释放及亚稳离子的峰宽

有关亚稳离子的讨论都是假定在离子分解时没有内能(激发能)向动能的转变。如果这个假定成立，亚稳离子的峰应是一个尖锐的峰。事实上并非如此，亚稳离子在通常扫描磁场的工作方式下，和普通离子一起被检出时，其峰变宽的现象最为显著，因此，离子分解时内能向动能的转换是不能忽视的。

由于离子分解反应时内能的释放(T>O)，子离子m2+的速度v2有别于母离子m1+的速度v1(v2≠O)，因此，每次分解反应所产生的m2+离子被记录的位置不是准确的一点而是有一定的扩散，形成一定的亚稳离子峰形。

亚稳离子有不同的峰形；高斯峰、平顶峰、盘形峰等。亚稳离子的峰形反映了离子的能量分布，可用来研究离子的热化学性质。计算亚稳峰的宽度有很大困难，现在只能半定量地进行峰宽的讨论。

二、碰撞诱导断裂

碰撞诱导断裂(collision—induced dissociation，cID)又称为碰撞活化断裂(colli．sion—activated dissociation，CAD)或简称碰撞活化(collisional—activation，CA)。

利用EI，会产生亚稳离子，但有产率不高的缺点。

采用各种软电离技术，易于得到分子量的信息，自然是十分有用的。但软电离技术所生成的准分子离子过剩的内能少，因而很少有甚至没有碎片离子，这不利于推测样品分子的结构。如果先测得准分子离子，随后将其“打碎”，再测定碎片，当然是最理想的情况。

不管是采用何种电离手段，如果选定某种碎片离子，将其打碎，得到它的各种离子，可以得到重要的结构信息。必要时，则可使这种过程再继续下去。

CID就是为了解决上述问题而提出的想法。某种离子(可以是分子离子、准分子离子或某种广义碎片离子)与惰性气体的原子(分子)相碰撞，该离子发生碎裂，这就是CID。

CID在一定的装置中进行，该装置称为碰撞室(collision cell)。在某些场合，碰撞室就是质量分析器。   

在CID过程中，将碰撞前、后的离子分别称为反应物离子(reactantion)和产物离子(product ion)，较少用母(parent)、子(daughter)离子的术语。 

由于与CID配套的质量分析器(主要指在CID之前的质量分析器)的不同，CID分为两类：第一类是离子具有几千电子伏特的动能，这相应于用扇形磁场、电场的质量分析器的情况。第二类是离子动能小于100eV，这相应于用四极滤质器、离子阱、离子同旋共振质量分析器的情况。   

虽然对CID的研究为时不短，但因其难度较大，因而对CID的研究还不充分。仔细分析有关论文，观点也不全同。但以下共识点是重要的。   

①通过碰撞，离子的一部分动能可转换为该离子的内能，导致该离子的碎裂。   

②由软电离所得的准分子离子，经CID所得的质谱(称CID谱)与EI谱有一定的相似性，因而弥补了结构信息的缺乏。   

原有的(广义)碎片离子，经CID有进一步的结构信息。   

⑧高能CID和低能CID所得的结果是有差别的。   

在进行高能CID时，由于离子动能大，CID较易发生。在进行低能碰撞时，采用质量较大的惰性气体，如Ar，xe代替He，有较高的CID效率。在用只加射频的四极滤质器作碰撞室时，由于射频有聚焦作用，碰撞室也有相当长度，因而CID的产率还是不错的。在使用FT一ICR或离子阱时，因离子在不断回旋或作复杂的周期性运动，CID的效率也较高。