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12-2020
样品受X射线照射后,其中各元素原子的内壳层(K,L或M层)电子被激发逐出原子而引起电子跃迁,并发射出该元素的特征X射线荧光。元素特征X射线的强度与该元素在样品中的原子数量(即含量)成比例,通过测量样品中某元素特征X射线的强度,便可求出该元素在样品中的含量,即为X射线荧光光谱定量分析。
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